V-mask tekniği ve istatiksel proses kontrol araçları

Abstract

ÖZET Anahtar Kelimeler Cusum, V-mask, kalite Günümüzde gelişen teknoloji ve uluslararası rekabet kalite kavramını ortaya çıkarmıştır. Bu kalite anlayışı beraberinde yeni üretim ve kontrol metodlarını getirmiştir. Uluslararası pazarda ayakta kalabilmek için üretilen ürünlerin belirli standartlara uyması bir zorunluluk olmuştur. Bu tezde proses kontrolüne yardımcı olan teknikler ile fazla yaygın olarak kullanılmayan V-Mask prosedürü ve uygulaması anlatılmıştır. Bu tezin 2. bölümünde kalite, kalite kontrol, istatistiksel kalite kontrolün tanımı yapılmıştır. 3. bölümde istatistiksel proses kontrol teknikleri birer örnekle anlatılmıştır. 4. bölümde genel cusum şemalarından bahsedilmiş ve bir örnek verilmiştir. 5. bölümde ise V-Mask prosedürü, kapsamı, literatürden örnekler verilerek açıklanmıştır. 6. bölümde ise V-Maskın bir uygulaması, sonuçları ve değerlendirilmesine yer verilmiştir. Bu uygulamaya göre, V-Mask ortalamadaki ufak değişiklikleri hemen göstermektedir. Kümülatif toplamlı kontrol (cusum) şemalarının bilinen Shewhart şemalarına göre bazı üstünlükleri vardır. Bir cusum şeması olan V-Maskta da özellikle proses ortalamasındaki ani ve küçük değişimler hemen fark edilmektedir. Değişimin zamanı da daha belirgin olarak saptanabilmektedir. V-Mask prosedürünün daha kolay ve yaygın bir şekilde uygulanması için bu tekniğin bilgisayar programlarından yararlanılmalıdır. Literatürde bununla ilgili bazı çalışmalar olsa da henüz iyi bir programı yoktur

V-Mask Technics and Statistical Process Control Tools Key Words: Cusum, V-Mask, Quality. Today's developing technology and international competition caused quality concept.This quality concept produced new control and production methods. In international marketting to be successful the quality of products must be standardised. In this study, technics that help process control and V-Mask method, and practice that is not used widely investigated. In the second section of this study the definition of quality, quality control, statical quality control were made. In the third section statistical process control technices were studied with examples. In the forth section general cusum charts were studied with examples. In the fifth section procedures and contents of V-Mask were studied with examples. In the sixth section a practice of V-Mask were studied. In many practices it is shown that V-Mask can show even small differences in the mean easily. Cumulative sum control charts have some adventages over other known Shewharts charts. Sudden and small differences in the process mean can be shown easily by V- Mask. By this method shift in the time can be detected more aqquretly.