Elektronik devre tasarımında kullanılan tümleşik devre bileşenlerinin teknolojik gelişmeler sonucunda paket yapılarında ki küçülmeler, pin yapılarının değişmesi, sahip oldukları özelliklerin artması gibi tümleşik devre bileşenini oluşturan yapısal ve işlevsel özellikler daha karmaşık bir yapıya dönüşmüştür. Bu karmaşık yapıların test edilebilmesi için geliştirilen yeni test teknikleri sonucunda JTAG tekniği geliştirilmiş ve bir IEEE standardı haline getirilmiştir. Bu karmaşık devrelerin kullanıldığı cihazların hatasız bir şekilde test edilerek üretilebilmesi için uygun bir test kurulumu gerekmektedir. Karmaşık devrelerin üzerinde yer alan bağlantı noktalarının çokluğu bu bağlantı noktalarının el ile testini imkânsız hale getirmektedir. Bu nedenle test sürecini otomatikleştirmek gerekmektedir. Bu sorunları çözmek amacıyla geliştirilen test sistemleri içerisinde kurulum, kullanım ve test kapsamı bakımından en avantajlısı Jtag sistemidir. Bu tez çerçevesinde Jtag sistemi ve diğer test sistemleri karşılaştırılmış olup avantajları ve dezavantajları tartışılmıştır. Jtag sistemi için örnek olarak yapılan uygulamada XJTAG firmasının üretmiş olduğu XJTAG test sistemi kullanılarak hata tespiti yapılmıştır.
With the development of technology, because of changing structural and functional features such as downsizing package structure, changing pin structures, increasing new features of Integrated Circuits(IC)' -which are used in electronic device development- ICs became more complicated structure. As a result of new testing techniques for testing of this complicated structure, JTAG technique was developed and became an IEEE standart. For defect-free testing and producing of the devices which uses these complicated circuits there must be a suitable testing setup. The majority of the pins on the complex circuits makes it impossible to test these ports manually. For this reason it is necessary to make it automated. In the systems developed for solving this problems Jtag is more advantageous in terms of instalation, usage and test coverage. Within the framework of this thesis, Jtag system and other test systems are compared and advantages and disadvantages are discussed. For an example of an application of Jtag system, error detection is done byusing XJTAG produced by XJTAG company.
